核徑跡防偽技術
2019-09-02
核徑跡防偽技術又稱重離子微孔技能，在開展的前期，科學家們用云霧室來勘探核離子徑跡，即在空腔內充溢過飽和蒸汽，當核離子傳過云霧室時，在其通過云霧室時，在其通過的途徑上留下一條白色的軌道，然后攝影保存徑跡圖畫。通過丈量徑跡的間隔和方向，便能夠知道核粒子的巨細和能量。
因為云霧室體積大，云霧徑跡保存時間短，需求攝影才干留下離子徑跡，運用很不便利，后來逐步被固體徑跡勘探器所替代。當高能核粒子穿過高分子聚合物時，在粒子通過的途徑上留下一條狹隘的損害通道徑跡。因為徑跡處的高分子鏈被損壞，構成許多自由基，化學活性很高，很簡單被化學試劑腐蝕，構成微孔。假如高分子聚合物是塑料薄膜，當帶電粒子徹底穿過薄膜時，則化學蝕刻后就構成通孔。操控輻照的強度和化學蝕刻條件，就能夠操控孔的多少和孔徑的巨細。
核徑跡防偽技術具有生產的獨占性、不可仿造性、方便大眾識別性，是防止假冒的利劍，是名優產品的保護神。核徑跡防偽標簽的識別方法就是用一滴水或彩筆，普通消費者便能直接輕易識別商品真偽。
核徑跡防偽技術特性
①微觀涉密不可復制性
②大眾識別，簡單可靠特性
③一次性使用，不能回收利用特性
④A級防偽，可用于司法鑒定特性
⑤高技術、設備高投入、高唯一、低成本特性
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